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如何提高G652D光纤宏弯损耗测试效率?

[日期: 2010-11-15 ] 千家综合布线网 www.cabling-system.com

  光纤宏弯损耗测试,在国家标准GB/T9771.3-2008中描述为:光纤以30mm半径松绕100圈,在1625nm测得的宏弯损耗应不超过0.1dB。

  而注2中描述:为了保证弯曲损耗易于测量和测量准确度,可用1圈或几圈小半径环光纤代替100圈光纤进行试验,在此情况下,绕的圈数环的半径和最大允许的弯曲损耗都应该与30mm半径100圈试验的损耗值相适应。

  大多光纤厂家都提供Φ60mm*100圈的判断标准,然而,在日常的测试工作中,若要采用方便快捷的实验方法,则倾向于按照注2中的建议去进行一些常规判断。因此,掌握Φ32mm*1圈与Φ60mm*100圈的数据差异就十分有必要。

  Φ32mm*1宏弯测试更为简便

  两种宏弯损耗测试方法示意图如图1所示。

  用上述方法对10盘正常生产条件下的光纤样品进行对比测试。

  分别在1310nm、1550nm、1625nm三种波长下,对10盘光纤样品的宏弯平均值、标准偏差进行统计,最后将全部数据汇总,得到图2。

  从整体数据汇总图可看出,Φ32mm*1宏弯测试方法所得数据的平均值和标准偏差都比Φ60mm*100的要小,且数据相对稳定,重复性好。当然所抽样品也不是完全都遵循此规律,10个样品中有3个样品在1625nm窗口下Φ32mm*1所得数据的平均值大于Φ60mm*100所测得的;还有1个样品在1550nm、1625nm窗口下所得数据的标准偏差大于Φ60mm*100的。

  10个样品用两种测试方法所得数据的平均值和标准偏差相差不大,处于一个数据等级内。Φ32mm*1的判断标准应考虑的与60mm*100比较接近。

  在测试过程中,Φ32mm*1宏弯测试方法易于操作,能减少测试误差,根据GB/T 9771.3-2008宏弯损耗的说明,Φ32mm*1宏弯测试方法可作为判断光纤宏弯性能的一种简便方法。

  Φ60mm*100作为标准明确规定一种方法,其准确性的提高需依赖于测试装置的改良,如保证光纤以尽可能一致的直径、适宜的张力缠绕100圈。

  截止波长与宏弯损耗存在相关性

  为更好地摸索宏弯损耗与截止波长的关系,随机抽取760个样品进行实验,实验数据如图3、图4所示。

  由图3可明显看出1625nm的数据较1550nm窗口下宏弯损耗分散,实际数据证实长波长对弯曲的敏感程度更甚。

  由图4可看出1625nm宏弯损耗相对集中时对应的截止波长也相对集中分布在1210nm~1290nm,截止波长越小,宏弯损耗越大,且分布散乱无规律。

  通过以上分析,可以看出截止波长对宏弯损耗有一定的影响,当截止波长分布在1210nm~1290nm范围内时,1550nm、1625nm窗口下宏弯损耗相对集中,数据稳定,这为光纤厂商优化工艺改善宏弯损耗提供了有利的数据依据。


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